泛美超聲測(cè)厚探頭 Olympus NDT為用戶提供系列完備、用于腐蝕測(cè)厚儀的雙晶片和單晶片探頭。該系列大部分探頭都能與自動(dòng)探頭識(shí)別功能兼容，因而提高了檢測(cè)效能。

產(chǎn)品型號(hào)：D790
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2026-05-29
訪問(wèn) 量：2331

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美國(guó)泛美D790超聲測(cè)厚儀探頭的詳細(xì)介紹
泛美超聲測(cè)厚探頭 Olympus NDT為用戶提供系列完備、用于腐蝕測(cè)厚儀的雙晶片和單晶片探頭。該系列大部分探頭都能與自動(dòng)探頭識(shí)別功能兼容，因而提高了檢測(cè)效能。由于備有各種不同頻率、不同大小以及承受溫度特性不同的探頭，因此對(duì)于大部分腐蝕探測(cè)應(yīng)用都能提供現(xiàn)成的解決方案。請(qǐng)注意：如需購(gòu)買TP103證書(shū)，需額外付費(fèi)。

Transducer Part #	Freq.	Tip Diameter		Connector		Range in Steel		Temp Range
	MHz	in.	mm	Type	Location	in	mm	°F	°C
D790	5.0	0.434	11	Potted	Straight	0.040 - 20	1.0 - 508	-5 to 932	-20 to 500
D790-SM	5.0	0.434	11	Microdot®	Straight	0.040 - 20	1.0 - 508	-5 to 932	-20 to 500
D790-SL	5.0	0.434	11	Lemo®	Straight	0.040 - 20	1.0 - 508	-5 to 932	-20 to 500
D790-RL	5.0	0.434	11	Lemo	Rt Angle	0.040 - 20	1.0 - 508	-5 to 932	-20 to 500
D791	5.0	0.434	11	Potted	Rt Angle	0.040 - 20	1.0 - 508	-5 to 932	-20 to 500
D791-RM	5.0	0.434	11	Microdot	Rt Angle	0.040 - 20	1.0 - 508	-5 to 752	-20 to 400
D792	10	0.283	7.2	Potted	Straight	0.020 - 1	0.5 - 25	32 to 122	0 to 50
D793	10	0.283	7.2	Potted	Rt Angle	0.020 - 1	0.5 - 25	32 to 122	0 to 50
D794	5.0	0.283	7.2	Potted	Straight	0.030 - 2	0.75 - 50	32 to 122	0 to 50
D795	5.0	0.283	7.2	Potted	Rt Angle	0.030 - 2	0.75 - 50	32 to 122	0 to 50
D797	2.0	0.900	22.9	Potted	Rt Angle	0.150 - 25	3.8 - 635	-5 to 752	-20 to 400
D797-SM	2.0	0.900	22.9	Microdot	Straight	0.150 - 25	3.8 - 635	-5 to 752	-20 to 400
D7226	7.5	0.350	8.9	Potted	Rt Angle	0.028 - 4	0.71 - 100	-5 to 300	-20 to 150
D798-LF	7.5	0.350	8.9	Potted	Rt Angle	0.028 - 4	0.71 - 100	-5 to 300	-20 to 150
D798	7.5	0.283	7.2	Potted	Rt Angle	0.028 - 4	0.71 - 100	-5 to 300	-20 to 150
D798-SM	7.5	0.283	7.2	Microdot	Straight	0.028 - 4	0.71 - 100	-5 to 300	-20 to 150
D799	5.0	0.434	11	Potted	Rt Angle	0.040 - 20	1.0 - 508	-5 to 300	-20 to 150
MTD705	5.0	0.200	5.1	Lepra/Con	Rt Angle	0.040 - 0.75	1.0 - 19	32 to 122	0 to 50

泛美超聲測(cè)厚探頭包括：D790 D790-SM D790-SL D790-RL D791 D797 D798-SM D799 D7906 M2017 MTD705及其探頭線等等

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泛美超聲測(cè)厚探頭 Olympus NDT為用戶提供系列完備、用于腐蝕測(cè)厚儀的雙晶片和單晶片探頭。該系列大部分探頭都能與自動(dòng)探頭識(shí)別功能兼容，因而提高了檢測(cè)效能。

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